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ビアインパッド基板実装の確認事項

著者: Liu Zhou

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露出したパッド、配線、ビア、取付穴を備えた未実装の緑色基板

ビアインパッドを用いたプリント基板実装の設計は、「ビアを充填する」といった一つの注記だけを根拠にリリースしてはいけません。はんだ付け可能なランドと重なるすべてのビアについて、機能、完成構造、パッド表面の要件、検証計画を定義する必要があります。開放ビア、テンティング(ソルダーレジストで開口部を覆う処理)を施したビア、部分穴埋めビア、充填ビア、充填後に銅キャップを形成したビアでは、実装時の条件が異なります。適切なリリースには、パッケージのランドパターン、基板製造図面、充填と銅キャップ形成の工程、はんだペーストの設計、表面の平坦度、そして未実装のプリント基板を製造する業者と実装業者の双方が提供する検証資料を関連付けることが必要です。

はんだパッド内のビアが実装リスクを変える理由

はんだパッド内にビアを設けると、パッドが接合面であると同時に、めっきまたは保護処理されたビアの入口にもなるため、リスクが変わります。この構造は、はんだ量、ペースト転写、部品の着座、検査に影響する可能性があります。

まず、次の三つを確認します。

  1. ビアはBGA、LGA、WLCSP、または小型受動部品の個別ランドの下にあるのか、それともQFN、SON、またはパワーパッケージのより大きな露出パッド内にあるのか。
  2. 部品搭載後のはんだ接合部は、目視できるのか、一部だけ見えるのか、完全に隠れるのか。
  3. 選択した処理によって、開いた穴、ソルダーレジストの部分、露出した充填材、くぼみ、突出部、または連続した金属化パッドのどれが残るのか。

開放状態のめっきビアには、リフロー中にはんだが流入する可能性があります。その量は、仕上がり穴の形状、めっきされた穴壁の長さ、ぬれ性、ペースト塗布量、表面仕上げ、向き、リフロー条件によって異なります。一つの穴径だけで、あらゆるパッケージと工程における許容性を証明することはできません。

パッド表面には別のリスクがあります。くぼみは局所的なペーストの接触を減らす可能性があり、銅キャップの突出や大きな銅の環状隆起は、部品の一部を隣接ランドより高く持ち上げる可能性があります。これらの影響は、基板との間隔が小さいパッケージ、狭ピッチパッケージ、または同一平面上に多数の隠れた接合部を持つパッケージで特に重要です。

検査は三つ目のリスク要因です。電気的導通があっても、十分なはんだ量、銅キャップの健全性、機械的な余裕があることの証明にはなりません。X線検査は隠れたはんだの分布を明らかにしますが、未実装基板における充填と銅キャップの構造を示す検証資料の代わりにはなりません。

実用的なリリース基準として、ビアインパッドの位置を100%特定し、分類することを採用してください。リファレンスデジグネータ、パッドまたはボール、機能、処理、必要な検証資料によって整理します。パッドとビアが重なる箇所を、Gerberの形状だけから解釈しなければならない状態で残してはいけません。

開放、テンティング、充填、銅キャップ形成の違いを区別する

ビアの用語は、完成後の断面とパッド表面を表すものでなければなりません。IPC-4761は共通の用語体系を提供していますが、「部分穴埋め」「樹脂充填」「キャップ形成」「上面めっき」「VIPPO」の使い方は、供給業者によって異なる場合があります。

代表的な工程の流れは次のとおりです。

穴あけとめっき → 指定に従ってテンティング、部分穴埋め、または充填 → 硬化 → 必要に応じて平坦化 → 必要に応じて被覆または銅キャップを追加 → 最終表面仕上げ → 実装

工程順序は、積層構成、ビア構造、材料、基板製造業者によって異なります。図面には要求する仕上がり状態を指定する必要があります。

ビアの処理 パッド表面の状態 実装上の懸念 製造側の検証資料 リリース時の確認事項
開放ビア めっきされた穴がランド内で開いたままになる はんだが穴内に流入する可能性があり、開口部によって接合面が途切れる 仕上がり穴データ、ビア配置図、初品の表面画像 このパッケージ、穴、ペースト、リフロー条件の組合せそのものについて、開放ビアの使用が承認されているか。
テンティングビア、IPC-4761タイプI 指定された片面または両面の開口部を、ソルダーレジストが橋渡しするように覆う テンティングははんだの移動を制限する可能性があるが、銅キャップ付きの平坦なパッドを形成するものではない レジスト版下データ、処理面の指定、被覆状態の検査 どちらの面にテンティングを施すのか。残るはんだ付け可能面積はランドパターンに適合するか。
テンティング後に追加被覆したビア、タイプII テンティングされた開口部に、さらに被覆層を設ける レジストの厚さと位置合わせが周囲のはんだ付け部分に影響する可能性があり、閉じ込められたガスについても引き続き検討が必要な場合がある レジスト構成と被覆記録 レジストによる閉鎖でよいのか。それとも接合部の下に連続した金属面が必要なのか。
部分穴埋めビア、タイプIII 片面または両面から、材料が穴に部分的に入り込む 「部分穴埋め」が完全充填と誤解される可能性があり、くぼみ、盛り上がり、内部空洞が残る場合がある 穴埋め方法、処理面、深さの定義、表面検査 設計で意図したのは部分的な穴埋めか、それとも完全に充填された構造か。
部分穴埋め後に被覆したビア、タイプIV 部分的に穴埋めしたビアをレジストで覆う 開口部はレジストで密閉されるが、連続したはんだ付け可能な銅ランドにはならない 図面に対応付けた穴埋めと被覆の記録 密閉だけで十分か。それともパッケージはパッドの平坦度とはんだ付け性の管理を必要とするか。
充填ビア、タイプV 充填材を穴内に浸入させ、穴を満たして封止することを意図する。表面は平坦化される場合がある 完全充填によって穴は閉じるが、露出した充填材が自動的にはんだ付け可能なパッドになるわけではない 試験クーポンの断面観察、充填工程記録、表面検査 はんだはどこにぬれ広がるのか。どの金属化処理によってランドが完成するのか。
充填後に被覆したビア、タイプVI 充填したビアの指定された片面または両面をレジストで覆う 特定の密閉領域には適するが、レジストは通常、実際にはんだ付けするランドと両立しない 充填の検証資料とレジスト被覆検査 被覆部分は、意図したはんだ接触領域の外にあるか。
充填後に銅キャップを形成したビア、タイプVII 充填と平坦化を行ったビアに二次金属化処理を施し、銅キャップ面を形成する 個別の隠れたランドの下にある多くのビアで優先されるが、くぼみ、突出、キャップの密着性、仕上げの管理は引き続き必要 断面観察、キャップめっき記録、表面形状測定結果、最終仕上げ記録 実際の積層構成、ビア形状、銅パターン設計で、基板製造業者は連続したパッドを製造できるか。

タイプVとタイプVIIの区別は重要です。タイプVが扱うのは、充填された穴です。タイプVIIでは、平坦化した充填材の上に金属化層を追加し、その部分を連続したはんだ付け可能なランドの一部にできるようにします。ビアを「充填する」という記述だけでは、完成後のパッドは定義できません。

充填材も明確に選定する必要があります。機械加工で穴あけした充填ビアでは非導電性樹脂が一般的ですが、特定の電気設計、熱設計、HDI設計には、導電性充填材や銅充填マイクロビア構造が適する場合があります。形状、硬化挙動、熱膨張、キャップの密着性、銅の厚付け、信頼性、コストを基板製造業者と検討してください。

基板製造図面をランドパターンと照合する

基板製造図面は、部品のランドパターンに関する決定を、基板製造業者が見積もり、製造、検査、追跡できる構造に落とし込む必要があります。CAD上でパッドと穴が重なっているだけでは、ビアインパッドの要件として不十分です。

図面またはデータ項目 解決すべき内容 実装側で必要な理由
VIP位置マップ リファレンスデジグネータ、パッドまたはボール、ビア数、処理区分 対象位置の見落としや、無関係なビアへの意図しない処理を防ぐ
ビア形状 開始層と終了層、ドリル情報、意図する仕上がり穴、ランド、基板厚、積層構成 充填、平坦化、キャップ形成の製造可能性を判断する
完成構造 IPC-4761のタイプ、または同等の断面説明。適用面も含む テンティング、部分穴埋め、充填、被覆、キャップ形成の曖昧さをなくす
パッドの接合インターフェース 最終銅ランド、ソルダーレジスト開口、ペースト開口、禁止領域、パッケージ図面の改訂版 基板注記を部品接合設計と一致させる
材料と仕上げ 充填材の系統、キャップ形成の意図、銅の厚付けに関する制約、最終表面仕上げ ビア内部の工程と最終的なはんだ付け可能表面を関連付ける
表面形状 必要に応じた、くぼみ、突出、環状隆起、局所的な平坦度のプロジェクト規定値と測定方法 実装業者がペースト転写と部品の着座を評価できるようにする
受入判定用の資料一式 適用する規格、クラス、初品検証資料、サンプリング、トレーサビリティ、記録保持 設計意図を検査可能な購買要件に変換する

一般的なドリル径、充填率、平坦度の限度値を、すべての図面にそのまま転記してはいけません。ランド寸法、基板厚、アスペクト比、ビアタイプ、銅分布、供給業者の工程によって、実現できる条件は変わります。リリース前に、実際の積層構成とランドパターンの確認を求めてください。

設計意図を十分に示す注記は、次の形式を参考にできます。

管理されたVIP位置マップで指定したビアは、樹脂充填、平坦化、銅キャップ形成を行い、連続したはんだ付け可能なランドを形成すること。設計意図:IPC-4761タイプVII。受入判定は、リリース済みの基板製造図面、契約で指定したプリント基板要件、承認済みの初品計画に従うこと。合意した試験クーポンの断面観察記録と表面形状測定記録を初品に添付すること。

この例は万能ではありません。最終的な注記は、パッケージ、基板構造、製品クラス、供給業者の工程、顧客要件に適合させる必要があります。

接合インターフェースを規定する基準は、引き続きパッケージ資料です。QFNの露出パッドではサーマルビアと分割したペーストパターンを使用できる場合がある一方、狭ピッチBGAのランドでは連続した上面めっき面が必要になる場合があります。どちらもビアインパッドと呼ばれるという理由だけで、同じ処理を割り当ててはいけません。

はんだ流出、表面の平坦度、隠れた接合部を確認する

はんだ流出、パッドの平坦度、隠れた接合部の検査は、まとめて検討する必要があります。はんだ量の少ない接合部があっても、ビアが不良の原因であるとは限りません。また、ビアが充填されていても、パッドが平坦ではんだ付け可能であることの証明にはなりません。

各位置について、溶融はんだがどこに移動できるかを追ってください。開放されためっき穴、不完全な閉鎖、反対面のパッド、露出銅は、はんだ分布を変える可能性があります。印刷、搭載、仕上げ、リフロー、反り、パッケージの共面性でも、似た症状が発生することがあります。

観察された症状 ビアに関連する可能性 確認すべきその他の原因 次に最も有効な検証資料
隠れた接合部のはんだ量不足 開放ビア、または不完全に閉じたビアにはんだが流入した ペーストの抜け不良、開口の詰まり、搭載位置ずれ、汚染 はんだペースト検査(SPI)記録、X線画像、対象箇所を絞った未実装基板の断面
パッケージの傾き、または基板との間隔の不均一 キャップの突出、パッドのくぼみ、めっきの不均一 パッケージの共面性、基板の反り、ペースト塗布量の不均一 未実装基板の表面形状とペースト高さマップ
露出パッド下の不規則なボイド発生 テンティングまたは密閉したビア周囲のガス、あるいは不均一な流れ ペーストの化学組成、開口の分割、リフロー条件、酸化 X線画像のパターン、ステンシルデータ、リフロープロファイル、基板製造工程の確認
反対面へのはんだ流出 めっき穴を通る開放経路、または不十分な閉鎖 ペースト過多、第2面の露出銅、熱的不均衡 両面の外観検査、およびVIP位置マップと対応付けたX線検査
断続的な電気的異常 不完全な接合、穴壁の不良、キャップの亀裂、パッドの剥離 部品不良、汚染、たわみ、リワークによる損傷 電気的な不良箇所の特定、X線検査、対象を絞った破壊解析

銅キャップは、はんだパッドの一部として扱ってください。表面形状測定では、写真では定量化できないくぼみ、突出、端部の段差や形状変化を確認できます。方法、測定位置、サンプリング、限度値を明示してください。一つの平坦度の値が、あらゆるランドとパッケージに適するわけではありません。

検証手段ごとに、答えられる問いは異なります。

検証方法 確認できる内容 単独では証明できない内容
試験クーポンの断面観察 穴壁めっき、充填、内部空洞、キャップ構造、局所的な位置合わせ 生産品のすべての位置、または実装後のはんだ接合部
未実装基板の表面形状測定 くぼみ、突出、環状隆起、選択したランドの平坦度 内部充填材の密着性、またはリフロー時の挙動
はんだペースト検査 塗布面積、高さ、体積、位置ずれ、印刷の一貫性 最終的なぬれ、またはリフロー後の隠れた不良
2Dまたは3DのX線検査 隠れたはんだ分布、オープン、ブリッジ、位置合わせ、ボイドの大まかな分布パターン 正確なキャップ厚さ、樹脂の密着性、すべての界面亀裂
電気試験または機能試験 試験条件下での接続性と応答 十分なはんだ量、または長期的な機械的余裕
断面観察または故障解析 局所界面の詳細と故障メカニズム 妥当なサンプリング計画なしでのロット全体の状態

すべてのBGA、LGA、QFN、パワーパッドに一つのボイド面積限度値を適用しないでください。部品供給業者の指針、適用する実装要件、顧客基準、実際の接合部に対する適格性評価データを使用します。

基板リリース前に検証資料について合意する

基板製造業者と実装業者では管理する範囲が異なるため、リリース前に検証資料について合意してください。計画を後回しにすると、不良ロットが発生した際に、原因を特定するための試験クーポン、表面形状データ、トレーサビリティ、リフロー前の記録が残っていない可能性があります。

次の四段階の検証資料を用います。

  1. 設計リリースの検証資料: 最新のパッケージ図面、ランドパターン確認、完全なVIP位置マップ、積層構成、ドリルデータ、レジストとペーストのデータ、図面注記、解決済みの例外事項。
  2. 未実装基板の初品検証資料: 基板製造業者の対応能力確認に加え、合意した断面観察、充填とキャップの画像、表面形状データ、最終仕上げ記録、寸法測定結果、電気試験、ロットトレーサビリティ。
  3. 実装初品の検証資料: ステンシルの改訂版、SPI結果、搭載プログラムの改訂版、リフロープロファイル、X線画像、検査サンプリング、電気試験結果、異常の処置。
  4. 適格性評価または故障解析の検証資料: リスクの高い製品に対する、プロジェクト固有の破壊断面観察、温度サイクル、環境曝露、機械試験、追加の工程能力データ。

次の資料は、それぞれ異なる確認範囲を支えます。

資料 主な用途 代替できないもの
IPC-4761 保護処理したビアの構造タイプを定義する パッケージの指針、基板製造業者の対応能力、プロジェクトの限度値
IPC-6012およびIPC-A-600(契約で適用する場合) プリント基板の性能と受入判定の枠組み 完全なVIP図面注記と検証資料の計画
J-STD-001およびIPC-A-610(契約で適用する場合) はんだ付け工程と実装製品の要件 内部充填と銅キャップの検証
IPC-7095 BGAの設計と実装の指針 最新のデバイスデータと実装業者の適格性確認済み工程
パッケージ図面とアプリケーションノート デバイス固有のランド、レジスト、ペースト、サーマルビア、検査の指針 基板製造能力や顧客要件

適用する規格の版、製品クラス、図面改訂版、記録を購買文書に明記してください。規格番号だけでは、製造上の判断は解決しません。

基板製造と実装の各担当者とビアインパッドの例外事項を解決する

ビアインパッドの例外事項は、設計、基板製造、実装、品質、リリース責任者が共同で解決する必要があります。設計は電気的・機械的意図を、基板製造業者は未実装基板の工程能力を、実装業者は印刷、搭載、リフロー、接合部検査を、品質担当は合意した検証資料と処置の手順をそれぞれ担当します。

次の確認フローを使用してください。

対象パッドと機能を正確に特定 → パッケージの指針と提案構造を比較 → 基板製造側の見解を取得 → 実装側の見解を取得 → 処理の選定または再設計 → 検証資料と受入条件を定義 → 改訂管理の下で例外事項を解決

次の場合は、判断を上位の検討段階に上げてください。

  • 「部分穴埋め」「充填」「キャップ形成」「VIPPO」と記載されているが、断面が定義されていない。
  • BGA、LGA、WLCSP、またはその他の基板との間隔が小さいパッケージの、個別の隠れたランド内にビアがある。
  • キャップめっきが、微細な銅配線、間隔、最終ランド径に影響する可能性がある。
  • 厚い基板構造、通常と異なるアスペクト比、ブラインドまたは積み重ね構造、複数のビア技術を組み合わせた構成を採用している。
  • パッケージ固有のペーストおよびX線の検証資料がないまま、開放またはテンティングしたサーマルビアを提案している。
  • いずれかのリフロー工程で、両面の部品が影響を受ける可能性がある。
  • 隠れた接合部に対するX線の観察方法、サンプリング規則、不良処置が定められていない。
  • 適格性評価後に、基板製造業者、充填材、表面仕上げ、実装拠点が変わる。

未実装基板の追加費用だけでなく、製造全体のリスクを比較してください。開放またはテンティングを選ぶと、ステンシル試作、X線検査、リワーク、歩留まり調査が追加される場合があります。一方、充填と銅キャップ形成は基板の製造工程を増やし、銅形状を制約する可能性があります。完全なインターフェース定義と検証計画で裏付けられた方法を選んでください。

購買担当は、すべての見積参加業者に同じ定義を渡す必要があります。内容は、VIP位置マップ、ビア形状、積層構成、完成構造、充填とキャップ形成の意図、表面仕上げ、初品記録、サンプリング、変更通知に関する要求です。「ビアインパッド:有/無」だけに基づく見積もりは、技術的に比較できません。

用途に応じて異なる判断が必要な場面

処理方法は、全社共通の一つのルールではなく、ビアの目的とはんだ接合部の種類に合わせる必要があります。

用途 リリース時の主な確認事項 検証資料の重点
狭ピッチBGAの引き出し配線 各ボールランドにタイプVIIに相当する連続表面が必要か。供給業者はキャップとランドの形状を維持できるか。 クーポン断面、表面形状、SPI、BGAのX線検査
QFNまたはSONの露出放熱パッド 最新のデバイス指針で、開放またはテンティングしたサーマルビアが認められるか。それとも再現性のあるはんだ分布のために充填が必要か。 パッケージのノート、ペーストの分割、リフロープロファイル、露出パッドのX線検査
パワー用途または大電流のパッド 選択したビア構造は、充填材の名称だけに頼らず、電気、熱、信頼性の要求を満たすか。 解析、基板断面、接合部検査、適格性評価計画
RFまたは高速信号の遷移部 必要な電気的形状は、キャップめっきおよび微細配線の製造と両立するか。 積層構成の確認、信号品質解析、キャップ形状
高密度の両面実装 いずれかのリフロー工程中に、はんだ流動、ガス、表面形状が第2面に影響する可能性はあるか。 両面データの確認、工程順序、外観検査、X線検査
コスト重視の試作または再設計 簡略化した構造は、管理された技術試験なのか。それとも未承認の量産上の省略なのか。 文書化した例外、限定数量の製造、比較検査、歩留まり記録

中央パッド内のサーマルビア配列と、BGAの一つのボール下にある銅キャップ付きビアでは、はんだ量、平坦度、検査について別々に判断する必要があります。

ビアインパッドのリリースチェックリスト

基板リリース前に、次を確認してください。

  1. 最新のパッケージ図面とアプリケーション指針を確認している。
  2. はんだ付け可能なランドと重なるすべてのビアを、管理されたVIP位置マップに記載している。
  3. 各位置について、配線、グラウンド接続、放熱、電流経路、その他の機能を文書化している。
  4. 完成構造を、通称だけでなくタイプまたは断面で定義している。
  5. 積層構成、ドリル、銅ランド、レジスト、ペースト、表面仕上げのデータが一致している。
  6. 基板製造業者が、実際の形状と検証計画を承認している。
  7. 着座やペースト転写が表面形状に左右される場合、その要件を明記している。
  8. 実装業者が、印刷、リフロー、X線検査、受入判定の方法を承認している。
  9. 初品記録、サンプリング、トレーサビリティ、変更に伴う再確認の起点を購買文書に明記している。
  10. すべての例外事項を承認し、リリースする改訂版に関連付けている。

よくある質問

ソルダーレジストによるテンティングで、ビアインパッドの懸念はすべて解決しますか?

いいえ。テンティングは特定の設計ではんだの移動を制限する可能性がありますが、銅キャップ付きの平坦なはんだ付けランドを形成するものではありません。結果は、テンティングする面、穴形状、レジストの位置合わせ、工程順序、ペーストパターン、パッケージによって異なります。密閉構造や裏面側の構造は、ガスの放出とボイド発生にも影響する可能性があるため、基板製造業者と実装業者の双方が、具体的な構造を承認する必要があります。

開放ビアが接合部からはんだを引き込むのはなぜですか?

リフロー中、溶融はんだがめっきされた穴壁をぬらし、穴の中に移動することがあります。移動する体積は、仕上がり穴の形状、めっきされた穴壁の長さ、仕上げ、ペースト塗布量、向き、ぬれ性、熱条件によって異なります。接合部のはんだ量不足、基板との間隔の不均一、反対面へのはんだ流出が起こる可能性がありますが、根本原因を特定する前に、SPI、X線、基板の検証資料が必要です。

充填ビアの銅キャップが正しく形成されていることは、どの資料で確認できますか?

ビア内部と接合面の両方を示す検証資料を用います。代表的な初品資料には、充填とキャップの構造を示す試験クーポンの断面観察、対象ランドの表面形状測定、最終仕上げ記録、上面検査が含まれます。SPIとX線検査は実装時の挙動を確認しますが、未実装基板の銅キャップ検証の代わりにはなりません。

ビアインパッドの要件は基板製造図面に記載すべきですか?

はい。図面または管理された製造データで対象ビアを特定し、完成構造、適用する保護タイプ、必要に応じた処理面の指定、充填とキャップ形成の意図、表面仕上げ、受入判定資料、初品検証資料を定義する必要があります。パッドと穴が重なっているだけでは、開放、テンティング、部分穴埋め、充填、被覆、キャップ形成のどの仕上がりを設計が求めているか、基板製造業者には伝わりません。

すべての狭ピッチパッケージに同じビア処理を使用できますか?

いいえ。ピッチだけでは処理方法は決まりません。ランド寸法、リフロー時のパッケージの沈み込み、電気的機能、熱経路、基板厚、ビア形状、ペースト工程、検査アクセス、供給業者の指針がいずれも重要です。最新の部品資料を使用し、その具体的な設計について、基板製造業者と実装業者の双方から確認を得てください。

VIPPOは、充填後に銅キャップを形成したビアと同じですか?

VIPPOは通常「via-in-pad plated over」を意味し、一般に充填、平坦化、銅キャップ形成を施した構造を指します。ただし、供給業者間で用語の使い方が完全に統一されているわけではありません。この略語だけを完全な仕様として受け入れないでください。意図する断面を定義し、該当する場合はIPC-4761タイプVIIを参照し、対象ビアを特定したうえで、必要な表面および検査の検証資料を明示します。

QFNの露出パッド下のサーマルビアは、開いたままにできますか?

最新のデバイス指針と適格性が確認された実装工程がその選択を裏付ける場合には、可能なことがあります。開放またはテンティングしたサーマルビアは、適切なビア配置、分割ペースト設計、仕上げ、リフロー工程との組合せで機能する場合があります。一方で、はんだ流出やボイド発生を変える可能性もあります。すべてのQFNに共通するルールではなく、パッケージのアプリケーションノートと実装試験を判断の根拠にしてください。

ビアインパッド基板実装の初品検証資料には、何を含めるべきですか?

リリース済みのVIP位置マップと図面改訂版、基板製造業者の対応能力確認、合意した断面観察結果、平坦度が重要な場合の表面形状データ、最終仕上げと電気試験の記録、ロットトレーサビリティ、ステンシルの改訂版、SPIデータ、リフロープロファイル、隠れた接合部のX線画像、異常の処置を含めます。具体的な資料一式は製品リスクに合わせ、製造開始前に定める必要があります。

製造可能な設計をリリースするための次のステップ

PCBの積層構成、基板製造図面、ドリルデータ、VIP位置マップ、部品のパッケージ資料、ソルダーレジスト層とペースト層、表面仕上げ、製品クラス、提案する検証計画を、一つの確認用資料にまとめてください。まず基板製造業者に完成後のビア構造とパッド表面の確認を依頼し、次に実装業者に印刷、リフロー、隠れた接合部の検査について確認を依頼します。

JASPERのプリント基板実装サービスを通じて連携した確認を行うには、フットプリントのスクリーンショットではなく、完全なデータ一式を提出してください。リリースする改訂版が購買に渡る前に、処理、平坦度、はんだ量、検証資料、例外事項に関する判断を完了させてください。

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Liu Zhou
メンブレンスイッチ上級エンジニア
Liu Zhouは、オーバーレイの材料選定、回路設計、タクタイル構造の開発、生産工程管理に15年の実務経験を持っています。JASPERでは、設計レビュー、試作支援、製造の最適化を通じてOEMのお客様をサポートしています。

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